박막트랜지스터의 문턱전압 이동에 대한 열화모형 분석
Analysis of Degradation Model for Threshold Voltage Shift of Thin-Film Transistors
초록/요약
OLED디스플레이의 밝기를 조절해주는 박막트랜지스터는 주변온도와 동작시간에 따라서 전기적인 특성이 변화하는 성질이 있다. 그 중에서 대표적인 전기적인 특성은 문턱전압 이동이며, 이는 박막트랜지스터의 출력전압을 감소시켜서 화면의 밝기도 어두워지게 한다. 결국에는 OLED디스플레이의 화면에 검은 얼룩이 생기게 된다. 이러한 부분은 OLED디스플레이의 수명을 짧아지게 하는 중요한 요인이 된다. 따라서 OLED디스플레이 화면에 검은 얼룩을 발생시키는 고장원인인 문턱전압 이동에 대한 신뢰성 확보활동으로 수명 분석이 중요성하다. 이처럼 수명 분석을 위해서 가속열화시험으로 얻은 열화데이터로부터 문턱전압 이동의 수명을 추정한다. 이때, 수명 추정의 정확성을 높이기 위해서는 가장 적합한 문턱전압의 열화모형이 필요하다. 따라서, 본 연구에서는 열화모형별로 모형적합성 분석 및 예측정확성 분석, 수명 분석을 수행하고, 이로부터 문턱전압 이동에 대한 열화모형별 특징을 분석하여 문턱전압 이동의 열화패턴에 가장 적합한 열화모형을 파악하고자 한다. 최종적으로 선정된 열화모형은 수명 추정의 정확성을 높여서 품질보증 시간을 확실하게 판단하는 기준이 된다. 그래서 OLED디스플레이의 문턱전압에 대한 신뢰성 확보가 가능할 수 있을 것으로 기대한다.
more목차
제1장 서론 1
1.1절 연구 배경 및 목적 1
1.2절 연구 범위 및 내용 3
제2장 이론적 고찰 5
2.1절 OLED 구조 및 발광원리 5
2.2절 문턱전압 이동의 기본 개념 및 열화메커니즘 6
제3장 열화모형 선정 기준 9
제4장 문턱전압 이동의 열화모형 분석 결과 및 해석 11
4.1절 열화데이터 추출방법의 타당성 검증 11
4.2절 문턱전압 이동의 열화패턴 분석 12
4.3절 검토할 열화모형 선정 16
4.4절 통계량 분석 19
4.5절 예측정확성 분석 29
4.6절 수명 분석 31
제5장 결론 33
참고문헌 34
