고배속 Blu-ray 디스크 드라이브의 저온 기록품질 개선
An Improvement of Writing Quality for High-Speed Blu-ray Disc Drives at a Low Temperature
- 주제(키워드) Blu-ray , low temperature , writing quality
- 발행기관 아주대학교
- 지도교수 김영길
- 발행년도 2010
- 학위수여년월 2010. 8
- 학위명 석사
- 학과 및 전공 일반대학원 전자공학과
- 실제URI http://www.dcollection.net/handler/ajou/000000010860
- 본문언어 한국어
- 저작권 아주대학교 논문은 저작권에 의해 보호받습니다.
초록/요약
광학 데이터 저장매체인 CD, DVD, 블루레이 디스크 등의 미디어는 다양한 분야와 환경에서 폭넓게 사용되고 있다. 따라서 고온이나 저온의 특수한 환경에서도 디스크와 구동 드라이브에 대한 신뢰성의 확보가 필요하다. 본 연구에서는 블루레이 미디어를 저온에서 고배속으로 기록할 때 기록품질이 저하되는 원인에 대해 분석한 후 개선방법을 제안하였다. 블루레이 미디어 기록 재생용 드라이브인 BH30LS 모델에서는 레이저 다이오드의 미분저항이 큰 경우 저온에서 8배속 이상으로 기록된 신호의 지터가 높아서 개선이 필요한 것으로 나타났다. 블루레이 레이저 다이오드의 주변온도가 저온으로 변화하면 블루레이 레이저 다이오드의 미분저항은 더욱 증가한다. 미분저항의 증가는 레이저 다이오드의 광출력의 하강시간을 길어지게 하여 지터(Jitter)가 증가되는 결과를 가져왔다. 저온 기록품질을 개선할 수 있는 방법으로 상온에서의 레이저 다이오드의 발광 펄스폭과 광출력 하강시간의 온도변화 특성을 이용하여 저온에서의 레이저 발광 펄스폭을 유도했다. 유도된 발광 펄스폭을 적용하여 저온에서 실험한 결과 기록품질을 향상 시킬 수 있었다.
more초록/요약
A Compact Disc, DVD and Blu-ray Disc are used for optical storage device in various circumstance. Therefore, discs and drives need to get the reliability in a low or high temperature. When the differential resistance of blu-ray laser diode is high, 10x writing jitter of blu-ray recordable disc is very high at a low temperature. The differential resistance of blu-ray laser diode is increased at a low temperature. Because of a high differential resistance, the falling time of laser output was increased and jitter became high. This paper proposes a new method to improve writing quality by adjusting pulse-width of laser diode. Pulse-width for writing at a low temperature is calculated by using the temperature characteristic of the falling time of laser output and pulse-width for laser diode at room temperature. The result of the experiment confirms that the new calculation method is effective.
more목차
제 1 장 서 론 9
제 2 장 블루레이 디스크 기록 시스템 11
제 1 절 광학 디스크 기록의 원리 11
제 2 절 블루레이 레이저 다이오드 13
제 3 절 레이저 다이오드의 V-I 특성 21
제 4 절 블루레이 레이저 다이오드의 미분저항 특성 24
제 3 장 기존 시스템의 문제점 29
제 1 절 블루레이 디스크의 기록품질 29
제 2 절 실험 대상 및 환경 31
제 3 절 저온에서의 기록품질 34
제 4 장 기록품질 저하의 원인 분석 및 개선 38
제 1 절 미분저항의 온도 특성 38
제 2 절 미분저항과 기록품질 39
제 3 절 기록품질 개선 방법 42
제 5 장 실험 및 결과 46
제 6 장 결 론 50
참고 문헌 52
ABSTRACT 54
