SIP/MCP를 고려한 최적화된 바운드리 스캔 방법에 대한 고찰
The Method and Apparatus of Optimal Boundary Scan Design Considering SIP/MCP
- 주제(키워드) JTAG , Boundary Scan , SIP , MCP
- 발행기관 아주대학교 산업대학원
- 지도교수 이자성
- 발행년도 2008
- 학위수여년월 2008. 2
- 학위명 석사
- 학과 및 전공 산업대학원 정보전자공학과
- 본문언어 한국어
초록/요약
바운드리 스캔은 IEEE Std. 1149.1으로도 명명된 매우 잘 알려진 DFT (Design For Testability) 기술 이다. 이는 입출력과 내부 로직 사이에 바운드리 스캔 레지스터를 할당함으로써 구현된다. 본 논문에서는 이러한 바운드리 스캔 기술이 SIP (Silicon In Package)나 MCP (Multi Chip Package) 상에 구현할 때의 문제점을 도출하고, 이를 해결할 수 있는 최적화된 해결책을 제시한다. 본 논문에서 제시하는 방법은 1) 가장 작은 Area Overhead, 2) 최단 시간의 테스트 시간, 3) 가장 간단한 디자인 방법을 포함한다.
more초록/요약
Boundary Scan is well-known standard DFT techniques, called IEEE Std. 1149.1, that is designed with boundary scan register placed between pads and internal logic. In this paper, I deduce those problems of the implementation in SIP (Silicon In Package) or MCP (Multi-Chip Package) and I propose the optimal solution against those problems. The advantage of the proposed solution includes: (1) it realizes the smallest area overhead. (2) it minimizes the test cost, and (3) this solution is easy to implement.
more목차
ABSTRACT = 3
TABLE OF CONTENTS = 4
LIST OF FIGURES = 6
서론 = 8
본론 = 10
1장. BOUNDARY SCAN (IEEE STD. 11491.1, JTAG) BASIC = 10
1절. 바운드리 스캔의 배경 = 10
2절. 보드 테스트 = 11
3절. In-Circuit 테스팅 = 12
4절. 바운드리 스캔 테스트의 등장 = 12
5절. 바운드리 스캔의 기본 구조 = 13
6절. TAP Controller의 동작 = 16
7절. 바운드리 스캔 셀의 구조 = 18
8절. 인스트럭션 레지스터 = 20
9절. Bypass 레지스터 = 21
10절. 바운드리 스캔 인스트럭션 = 21
11절. 기본적인 테스트 알고리듬 = 26
12절. BSDL (Boundary Scan Description Language) = 27
2장. SIP/MCP를 고려한 바운드리 스캔 디자인 = 28
1절. SIP/MCP상에서의 일반적인 바운드리 스캔 기법 = 28
2절. SIP/ MCP상에서의 바운드리 스캔의 문제점 = 29
3장. 본 논문에서 제시하고자 하는 방법 = 37
결론 = 49
참고문헌 = 50
