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고휘도 LED의 가속수명시험에 의한 실수명예측에 관한 연구

A Study on the Mean Life Estimation of High Luminance Emitting Diode by Acceleration Life Test

초록/요약

본 논문에서는 범용으로 사용되고 있는 정방형 타입의 LED(Light emitting diode)의 신뢰성을 평가하기 위한 가속수명시험을 다루고 있다. 정격 전류 20 mA의 고휘도 LED를 시료로 선정하였으며, 가속변수로 온도를 설정하였다. 2개의 시험수준 70℃ 및 90℃에 22개 시료를 1400시간 동안 시험을 하였으며, 정해진 시점에서 시료의 광특성을 측정하여 수명데이터를 수집하였다. 이때 시료의 광출력값(휘도)이 초기대비 60%로 감소하면 고장으로 판정하였다. 와이블분포-아레니우스 모형을 가정하고 수명데이터를 분석하여 사용조건에서의 고휘도 LED 수명을 예측하였으며, 고휘도 LED의 수명이 온도에 의하여 가속됨을 확인하였고 정상상태에서 수명을 예측한 결과를 분석하였다.

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목차

Ⅰ. 서론 = 1
Ⅱ. 이론적 고찰 = 4
A. LED의 이론적 고찰 = 4
1. LED의 기본 개념 및 원리 = 4
2. LED의 발광효율 = 6
B. Escape cone 해석 이론 = 9
C. 가속수명시험의 이론적 고찰 = 16
1. 가속수명시험 = 16
2. 가속계수 = 18
3. 가속수명시험 모형 = 20
Ⅲ. 고휘도 LED 가속수명시험 = 29
A. 고휘도 LED의 온도특성에 대한 시뮬레이션 = 29
1. 고휘도 LED 모델링 = 29
2. 고휘도 LED 시뮬레이션 = 31
3. 온도변화에 따른 고휘도 LED 출력특성 = 32
B. 시료선정 및 시험조건 = 34
1. 시료의 선정 = 34
2. 시험조건 = 37
3. 시험장치 = 39
Ⅳ. 시험결과 및 분석 = 42
A. 가속시험 결과 = 42
1. 고휘도 LED 특성측정결과 = 42
2. 가속시험 데이터 = 45
B. 가속시험 데이터 분석 = 50
1. 70℃에서의 가속시험 데이터 분석 = 50
2. 70℃에서의 가속시험 데이터 분석 = 54
3. 가속계수에 의한 수명예측 = 58
Ⅴ. 결론 = 61
참고문헌 = 62

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