고장모드 기반의 임베디드 소프트웨어 테스트 선정방법
Failure Mode based Test Methods for Embedded Software
- 주제(KDC) 530
- 주제(DDC) 658
- 발행기관 아주대학교
- 지도교수 장 중 순
- 발행년도 2007
- 학위수여년월 2007. 8
- 학위명 석사
- 학과 및 전공 일반대학원 산업공학과
- 본문언어 한국어
초록/요약
최근 임베디드 시스템의 급성장으로 인하여 사용자 요구 기능이 많아짐에 따라 복잡한 알고리즘이 구현된 임베디드 SW가 탑재된 제품이 많아지고 있다. HW의 경우 과거부터 오랜 기간 동안의 연구를 통해 규격화되어 있는 테스트 기법이 많이 있기 때문에 상당히 안정화 되어 있어 같은 부품과 기능을 갖는 임베디드 시스템의 경우 SW에 의해서 그 품질이 좌우됨이 사실이다 기존의 임베디드 소프트웨어의 테스트 방법은 기능 중심으로 수행되어 잠재적인 고장을 찾아내기가 매우 어렵고 많은 시간이 소요된다. 특히 개발 단계에서 임베디드 소프트웨어의 신뢰성을 보증하기 위한 테스트는 시스템의 고장을 빨리 찾아내어 개선할 수 있어야 한다. 때문에 단시간 내에 품질을 보증할 수 있도록 체계적인 테스트 절차 및 테스트 방법론이 필요하게 되었다. 이에 본 연구에서는 임베디드 소프트웨어의 고장모드에 기반하는 테스트 방법론을 제시하고자 한다. 연구의 대상이 되는 임베디드 시스템의 기본적인 특성과 시스템의 고장속성에 대하여 기술하고 각 컴포넌트의 기능을 정의하여 고장모드를 분류하였다. 임베디드 시스템의 각 고장모드에 따라 적정 시험법을 산출하여 각 고장모드를 찾아낼 수 있는 테스트 케이스 생성 방법을 함께 제시하였다.
more목차
제1장 서 론 1
1.1 연구의 목적 및 배경 1
1.2 기존 연구 4
1.3 연구 내용 및 구성 13
제2장 임베디드 시스템 15
2.1 임베디드 시스템의 특징 15
2.2 임베디드 SW의 고장속성 23
제3장 임베디드 SW의 고장모드 27
3.1 임베디드 시스템의 기능 27
3.2 임베디드 SW의 고장모드 30
제4장 고장모드에 따른 테스트 법 선정 35
4.1 임베디드 SW 시험법 35
4.2 고장모드 기반의 적정 시험법 38
4.3 테스트 케이스 생성 및 사례 39
4.3.1 센서의 고장모드기반 테스트 케이스 셋 40
4.3.2 사용자입력의 고장모드기반 테스트 케이스 셋 41
4.4 테스트 케이스 생성 결과 44
제5장 결 론 46
목차
그림 목차
< 그림 1 > 테스트 단계별 소요시간 3
< 그림 2 > 동적 테스팅 6
< 그림 3 > 마이크로컨트롤러 대 마이크로 프로세서 18
< 그림 4 > 마이크로프로세서의 메모리 버스 사이클 20
< 그림 5 > 문제를 해결하는데 필요한 비용 22
< 그림 6 > 일반적인 임베디드 시스템 24
< 그림 7 > SW의 고장과정 25
< 그림 8 > HW와 SW의 고장 발생 과정의 비교 26
< 그림 9 > 임베디드 시스템의 고장 분석과정 31
목차
표 목차
< 표 1 > 테스트 방법론 분류 7
< 표 2 > 임베디드 시스템의 각 컴포넌트의 SW기능 28
< 표 3 > 임베디드 시스템의 각 컴포넌트 별 SW고장모드 32
< 표 4 > 임베디드 시스템의 시험법 정리 36
< 표 5 > 고장모드 기반 임베디드 SW 적정 시험법 38
< 표 6 > 고장모드 1에 대한 테스트케이스 예 40
< 표 7 > 고장모드 2에 대한 테스트케이스 예 41
< 표 8 > 고장모드 4에 대한 테스트케이스 예 41
< 표 9 > 고장모드 5에 대한 테스트케이스 예 42
< 표 10 > 고장모드 6에 대한 테스트케이스 예 43
< 표 11 > 테스트 케이스 생성 결과 44
