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엄격한 고장판정기준을 적용한 단계별 열화시험 설계

Design of Multistage Degradation Test with Tightened Critical Value

  • 발행기관 亞州大學校 大學院
  • 지도교수 張重淳
  • 발행년도 2004
  • 학위수여년월 2005. 2
  • 학위명 석사
  • 학과 및 전공 일반대학원 공학계열
  • 본문언어 한국어

초록/요약

최근의 시장 경쟁체제에서 신뢰성 보증은 제품의 시장점유에 결정적인 역할을 할 뿐 아니라 제품의 사용 중 고장 발생으로 인한 보증수리비용, 고객의 이탈과 이에 따른 손실 등은 기업에 치명적인 타격을 주게 된다. 따라서 개발 제품의 신뢰성 검토와 보증을 위해 신뢰성 시험을 실시하게 된다. 그러나 오늘날 글로벌화된 시장에서는 제품의 개념설계로부터 제품화하기까지 걸리는 총 리드타임을 단축하는 것이 경쟁력이 되었다. 이에 따라 제품 개발과정 각 단계의 시간 단축이 필요하게 되고 신뢰성 시험 시간 또한 줄어들게 된다. 결국 신뢰성 평가시간 단축을 위한 효과적인 신뢰성평가 방법에 대한 연구의 필요성이 제기된다. 제품의 신뢰성을 보장하는 동시에 단납기를 이루고자 신뢰성 평가시간을 단축하기 위한 이전의 여러가지 시도들이 있었다. 그 중 가장 대표적인 것이 가속시험( Accelerated Test )일 것이다. 그러나 고 신뢰성 제품의 경우 평가 제품에 대한 고장 정보가 적기 때문에 수명예측에 적합치 않을 수 있고 지나친 가속은 제품의 고장메커니즘의 변질을 초래하기도 한다.. 이에 성능특성치의 지속적인 관찰을 통한 열화량을 판단하는 열화시험의 장점이 더욱 부곽된다. 이에 본 논문에서는 평가기간 단축을 위해 열화시험(Degradation Test)에 합격수락 샘플링계획 (Acceptance Sampling Plan)을 적용한 단계별 열화 시험 설계(Design of Multistage Degradation Test)방안과 측정단계별로 엄격한 고장판정 기준값(Tightened Critical Value)을 적용하여 개발단계의 신뢰성 평가 단축방안을 제시하고 광픽업의 사례에 적용하여 검증해 본다.

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초록/요약

In these days, the speed of down scaling of electronic components is very fast while the required functions are kept unchanged, which makes the complexity of design and evaluation greater than before. Thus it is seldom the case where the first trial design is accepted as good in the life tests. Improvement of trial versions and re-evaluation are needed several times for final acceptance. During the life tests in the development stage, there are many cases where the amounts of degradation of some performance characteristics in earlier times of the life tests are so large that it is not necessary to continue the test until the prescribed test time which is usually specified by customers or well known standards. So, we may reduce the test time to some degree by early rejection. This paper proposes a multistage degradation test in which the decision to reject a design under development is made based on the periodic measurements before the prescribed test time. This paper also considers a method of tightening critical values at the reduced test times. In a word, this paper explains a method of determining the tightened critical value and proposes a multistage degradation test. Also, a case study for the case of optical pickup is given.

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목차

목차
제 1 장 서론 = 1
1.1 연구 배경 및 목적 = 1
1.2 기존 연구 고찰 = 3
1.3 연구 범위 및 내용 = 6
제 2 장 열화 시험(Degradation Test) = 8
2.1 열화 시험(Degradation Test) 의 개요 = 8
2.2 열화 모델(Degradation Model) 의 분류 = 13
제 3 장 엄격한 고장판정기준(Tightened Critical Value)을 적용한 단계별 열화시험(Multistag Degradation Test) 설계 = 18
3.1 열화시험 평가기간 단축 방안 = 18
3.1.1 엄격한 고장판정 기준 ( Tightened Critical Value ) = 18
3.1.2 합격 판정 샘플링(Acceptance Sampling)의 도입 = 22
3.1.3 엄격한 고장판정 기준 ( Tightened Critical Value )의 적용 = 24
3.2 단계별 열화시험(Multistage Degradation Test) 설계방안 = 28
3.2.1 엄격한 고장판정 기준을 적용한 단계별 열화 시험(Multistage Degradation Test with Tightened Critical Value) = 28
제 4 장 MDT의 적용( 광픽업의 사례 ) = 32
4.1 광픽업(Optical Pick Up)의 소개 = 32
4.2 광픽업(Optical Pick Up)의 열화시험(Degradation Test) = 35
4.3 TCV(Tightened Critical Value)을 적용한 MDT 설계 = 40
4.3.1 엄격한 고장판정기준 산출 = 40
4.3.2 유효성 검증 = 43
4.3.3 광픽업(Optical Pick Up)을 위한 MDT = 45
제 5 장 결론 및 향후 연구과제 = 53
참고문헌 = 55
ABSTRACT = 58

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